发明名称 串列式快闪存储器的抹除方法
摘要 本发明公开了一种串列式快闪存储器的抹除方法,至少包括以下步骤:提供欲抹除的区块,其中上述区块包括N个扇区;对区块执行前程式化程序;施加抹除脉冲于区块;选择N个扇区的最先者做为待测扇区;判断待测扇区是否通过扇区抹除验证;若是,检查待测扇区的复数个位元组存储单元,并将待测扇区的扇区地址储存于暂存器中;若否,选择N个扇区的下一者以更新待测扇区,并检查暂存器,移除N个扇区中已通过扇区抹除验证的扇区的复数个字元线的负偏压,且施加抹除脉冲于区块。
申请公布号 CN102930900A 申请公布日期 2013.02.13
申请号 CN201110228318.1 申请日期 2011.08.10
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 柳弼相
分类号 G11C16/14(2006.01)I;G11C16/02(2006.01)I 主分类号 G11C16/14(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 任默闻
主权项 一种串列式快闪存储器的抹除方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:(a)提供欲抹除的一区块,其中上述区块包括N个扇区,N为一正整数;(b)对上述区块执行一前程式化程序;(c)施加一抹除脉冲于上述区块;(d)选择上述N个扇区的最先者做为一待测扇区;(e)判断上述待测扇区是否通过一扇区抹除验证;(f)若上述待测扇区通过上述扇区抹除验证,检查上述待测扇区的复数个位元组存储单元,并将上述待测扇区的一扇区地址储存于一暂存器中;(g)若上述待测扇区未通过上述扇区抹除验证,选择上述N个扇区的下一者以更新上述待测扇区,并检查上述暂存器,移除上述N个扇区中已通过上述扇区抹除验证的扇区的复数个字元线的一负偏压,且施加上述抹除脉冲于上述区块,然后执行步骤(e);(h)检查上述暂存器以判断是否上述N个扇区皆通过上述扇区抹除验证;以及(i)若上述N个扇区皆通过上述扇区抹除验证,对上述区块执行一后程式化程序。
地址 中国台湾台中市