发明名称 | 具有光性能监测器的波分复用系统 | ||
摘要 | 本说明书描述了光性能监测器,其通过耦合单个可调光滤波器到正被监测的多个信道被简化。可同时进行对一个以上信道的光学测量。该光系统结构优选为用于WDM系统的光性能监测器。在根据本发明设计的系统中,n个信道可以通过使用n个光电检测器、n个光分离器,但仅有n/2个可调光滤波器被监测。附加的系统简化可通过使用耦合到光分离器的光切换元件获得。 | ||
申请公布号 | CN102933997A | 申请公布日期 | 2013.02.13 |
申请号 | CN201080003272.7 | 申请日期 | 2010.04.22 |
申请人 | 奥兰若(北美)有限公司 | 发明人 | C·林 |
分类号 | G02B6/12(2006.01)I | 主分类号 | G02B6/12(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 王岳;王忠忠 |
主权项 | 用于光学监测多信道的方法,包括:a)耦合第一光信道到第一三端口光分离器的输入端口,b)耦合第二光信道到第二三端口光分离器的输入端口,b)耦合第一三端口分离器的输入/输出端口到可调光滤波器的第一输入/输出端口,c)耦合可调光滤波器的第二输入/输出端口到第二三端口光分离器的输入/输出端口,d)耦合第一三端口分离器的输出端口到第一光电检测器,e)耦合第二三端口分离器的输出端口到第二光电检测器,f)扫描可调光滤波器,和g)测量第一和第二光电检测器的输出。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |