发明名称 热继电器双金属片检测装置
摘要 本实用新型提供一种热继电器双金属片检测装置,其包括:探针,其用于与热继电器双金属片配合;位移传感器,其与探针电性连接,其通过探针检测热继电器双金属片的位置状态;显示装置,其与所述位移传感器电性连接,用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值;拨杆,用于与热继电器中电流触头相配合,该拨杆位置可调;预拨杆,其包括一倾斜部,该预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。本实用新型热继电器双金属片检测装置通过设置一至少部分倾斜部位置位于拨杆位置更下方的预拨杆,避免拨杆在下降与电流触头配合的过程中与热继电器的侧壁抵触碰撞,保证检测过程顺利完成。
申请公布号 CN202734777U 申请公布日期 2013.02.13
申请号 CN201220282783.3 申请日期 2012.06.15
申请人 苏州工业园区高登威科技有限公司 发明人 沈皓然
分类号 G01B21/00(2006.01)I 主分类号 G01B21/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种热继电器双金属片检测装置,用于检测热继电器双金属片的位置状态,所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体,以及位于腔体中的电流触头,其特征在于,所述热继电器双金属片检测装置包括:探针,所述探针用于与热继电器双金属片配合;位移传感器,所述位移传感器与所述探针电性连接,所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态;显示装置,所述显示装置与所述位移传感器电性连接,用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值;拨杆,所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合;预拨杆,所述预拨杆包括一倾斜部,所述预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。
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