发明名称 雷射测距装置及其控制方法
摘要 本发明提供一种雷射测距装置及其控制方法,包括:一发射元件,一第一及第二液晶显示模组、一接收元件、一聚焦透镜以及一控制单元,其中在量测时,该发射元件发射量测光,并同时控制该第一液晶显示模组为不透光状态及第二液晶显示模组为透光状态以使该接收元件接收参考光,再控制第一液晶显示模组为透光状态及第二液晶显示模组为不透光状态以接收目标物之反射光、当该反射光大于一预定值时,调整第一液晶显示模组的透光度至该反射光低于该预定值时,由该参考光与该反射光的相位差,计算一距离值。
申请公布号 TWI385360 申请公布日期 2013.02.11
申请号 TW097150078 申请日期 2008.12.22
申请人 亚洲光学股份有限公司 台中市潭子区台中加工出口区南二路22之3号 发明人 罗印龙;蔡宗岳
分类号 G01C3/06 主分类号 G01C3/06
代理机构 代理人 沈怡宗 台北市松江路67号10楼之5
主权项
地址 台中市潭子区台中加工出口区南二路22之3号