用于最终测试的装置及方法

摘要

一种用于最终测试的装置及方法，包括在第一换盘站将第一客户托盘上的多个待测晶片移转到精准托盘上，对该精准托盘上的晶片进行测试，以及在第二换盘站将该精准托盘上的晶片移转到第二客户托盘上。该精准托盘上的容置槽对应该第一及第二客户托盘，在该二晶片移转过程中，一次取放步骤同时取放多个晶片，但不调整晶片间距，因此可以使用较低的取放速度达成高速的换盘作业，进而提高测试分类效率及产出。