发明名称 MEASUREMENT OF CAPACITANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH02141677(A) 申请公布日期 1990.05.31
申请号 JP19880296676 申请日期 1988.11.22
申请人 NEC CORP 发明人 OWADA SATOSHI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址