| 发明名称 | 单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5mm±0.76mm；当L大于305mm时，所述对比试块的直径为<img file="228614DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="56" he="24" />mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率（单位：MHz）。本实用新型弥补了检测距离大于305mm的大尺寸平面锻件无法调试标定的困难，提高了单晶探头探测平面锻件的水平。 | ||
| 申请公布号 | CN202710521U | 申请公布日期 | 2013.01.30 |
| 申请号 | CN201220147018.0 | 申请日期 | 2012.04.01 |
| 申请人 | 南京迪威尔高端制造股份有限公司 | 发明人 | 张利;陈昌华 |
| 分类号 | G01N29/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人 | 柏尚春 |
| 主权项 | 1.一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5 mm±0.76mm；其特征在于，当L大于305mm时，所述对比试块的直径为<img file="61520DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="57" he="27" />mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率，所述工作频率的单位为兆赫。 | ||
| 地址 | 211500 江苏省南京市六合区沿江工业开发区中山科技园 | ||