发明名称 用于测试和分类电子元件的系统
摘要 本发明提供一种用于电子元件,如LED器件的分类系统,该系统包括有:测试平台,其用于测试和确定每个电子元件的特性;第一容器盘,其具有多个接收座,以接收被测试的电子元件;以及第二容器盘,其具有多于该第一容器盘的接收座,以接收被测试的电子元件;其中,被装载在第一容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较高,而被装载在第二容器盘的接收座中的电子元件所包含的被测试的特性出现的频率较低。
申请公布号 CN101311730B 申请公布日期 2013.01.23
申请号 CN200710123459.0 申请日期 2007.06.25
申请人 先进自动器材有限公司 发明人 蔡培伟;史泽棠;汪世杰;叶晃承
分类号 G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R1/02(2006.01)I
代理机构 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人 周春发
主权项 一种用于电子元件的分类装置,该装置包括有:测试平台,其用于测试和确定每个电子元件的特性;第一容器盘,其具有多个第一接收座,以接收被测试的电子元件;以及第二容器盘,其具有多于该第一容器盘的多个第二接收座,以接收被测试的电子元件;以及处理器,其被操作来确定电子元件最频繁的特性,其后每个包含被选中的被测试特性的电子元件被分配至接收座,包含具有较高频率出现的被测试特性的电子元件被分配至第一容器盘的接收座中,包含具有较低频率出现的被测试特性的电子元件被分配至第二容器盘中的接收座中;以及管道结构,将电子元件引向至其被分配的各自的接收座中,其中电子元件从所述的测试平台到第一容器盘的接收座的移动距离短于到第二容器盘接收座的移动距离。
地址 中国香港新界葵涌工业街16-22号屈臣氏中心20楼