发明名称 载流子流产生电子器件及方法
摘要 本发明公开了一种包括用于产生载流子流(125)的发生器的电子器件。该发生器包括双极晶体管(100)和控制器,该双极晶体管(100)具有发射极区(120)、集电极区(160)和基极区(140),并且基极区(140)在发射极区(120)和集电极区(160)之间取向,该控制器用于控制双极晶体管(100)暴露于超过其开路基极击穿电压(BVCEO)的电压,使得发射极区(120)从比发射极区的表面区域更小的第一区域产生载流子流(125)。该电子器件还包括设置成接收载流子流的材料(410),载流子流用于触发所述材料性能的变化,发射极区(120)设置在基极区(140)和材料(410)之间。在操作中,该双极晶体管(100)受到超过其开路基极击穿电压(BVCEO)的电压,使得发射极区(120)从比发射极区的表面区域更小的第一区域产生载流子流,例如电子。因此,可以利用具有亚光刻尺寸的电子流,而不要求复杂的光刻工艺步骤。本发明尤其适合用于相变存储器。
申请公布号 CN101868828B 申请公布日期 2013.01.23
申请号 CN200880117163.0 申请日期 2008.11.12
申请人 NXP股份有限公司 发明人 托尼·范胡克;雷德弗里德勒·A·M·胡尔克斯;杨·W·斯洛特布曼
分类号 G11C16/02(2006.01)I 主分类号 G11C16/02(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 王波波
主权项 一种电子器件,包括:用于产生载流子流(125)的发生器,所述发生器包括:双极晶体管(100),具有发射极区(120)、集电极区(160)和基极区(140),所述基极区(140)在所述发射极区(120)和所述集电极区(160)之间取向,以及控制器,用于控制双极晶体管(100)暴露于超过其开路基极击穿电压(BVCEO)的电压,使得发射极区(120)从比发射极区的表面区域更小的第一区域产生载流子流(125),其中,所述集电极区包括具有横向梯度的掺杂分布,以增强从所述发射极区(120)的第一区域产生载流子流。
地址 荷兰艾恩德霍芬