即时侦测微粒变形的方法

摘要

木发明关于一种即时侦测微粒变形的方法，系藉由雷射光照射通过捕捉于两道单模光纤间之待测微粒产生非线性耦合率，即时侦测前述待测微粒之变形程度。本发明亦提供一种制作微粒变形曲线的方法，以及比较不同待测微粒的变形曲线以便即时得知不同微粒变形程度的方法。