发明名称 一种新型叠片二极管制造工艺及其芯片筛盘
摘要 一种新型叠片二极管制造工艺及其芯片筛盘,本发明涉及一种新型叠片二极管制造工艺,其特征在于所述步骤为:在硅片的P面或N面开宽槽,槽宽度为70~250um,槽深度60~100um;以宽槽槽底中心为边界进行划片;引线装填、筛装芯片后利用焊料将芯片、引线焊接固定,在筛装芯片时利用开宽槽形成的小面和芯片筛盘型孔配合,完成PN极性识别;再依次经过酸洗、梳条、上胶、胶固化、模压、后固化、电镀、测试、印字、包装、出货。在硅片的P面或N面开宽槽,以宽槽槽底中心为边界进行划片;在筛装芯片时利用开宽槽形成的小面和芯片筛盘型孔配合,完成PN极性的自动识别、调整,无需人工识别,提高效率和准确性,避免手工使用镊子调整造成芯片的损伤。
申请公布号 CN102881587A 申请公布日期 2013.01.16
申请号 CN201210393280.8 申请日期 2012.10.17
申请人 如皋市大昌电子有限公司 发明人 赵宇
分类号 H01L21/329(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 代理人 滑春生
主权项 一种新型叠片二极管制造工艺,其特征在于所述步骤为:在硅片的P面或N面开宽槽;以宽槽槽底中心为边界进行划片,形成具有小面和大面的芯片;引线装填、筛装芯片后利用焊料将芯片、引线焊接固定,在筛装芯片时利用开宽槽形成的小面和芯片筛盘的吸盘型孔配合,完成PN极性识别;再依次经过常规的酸洗、梳条、上胶、胶固化、模压、后固化、电镀工序,最后经检测合格出货。
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