发明名称 发光二极管测量装置
摘要 本发明公开了一种发光二极管测量装置,适用于覆晶式发光二极管的测量,其包括透明基板、间隔构件、软性透明载体及真空产生器。间隔构件设置于透明基板的第一面上,软性透明载体则可拆卸地接合于间隔构件之上,使得软性透明载体、间隔构件以及透明基板的第一面间形成密闭空间,真空产生器则可连接至此密闭空间。真空产生器可对密闭空间抽气使软性透明载体部分平贴于第一面上以形成用来承载覆晶式发光二极管的检测区。
申请公布号 CN102879180A 申请公布日期 2013.01.16
申请号 CN201110196669.9 申请日期 2011.07.14
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 曾一士;张添登;李静粼;郑智毓;郑勗廷
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 冯志云;郑特强
主权项 一种发光二极管测量装置,用于测量一覆晶式发光二极管,其特征在于,该发光二极管测量装置包括:一透明基板,具有一第一面;一间隔构件,设置于该第一面上;一软性透明载体,可拆卸地接合于该间隔构件上,其中当该软性透明载体接合于间隔构件上时,该软性透明载体、该间隔构件及该透明基板的该第一面之间形成一密闭空间;以及一真空产生器,连接至该密闭空间并用于对该密闭空间抽气;其中,当该透明载体接合于该间隔构件上且该真空产生器对该密闭空间抽气时,该软性透明载体部分平贴于该第一面上以形成一检测区,该检测区用于承载该覆晶式发光二极管。
地址 中国台湾桃园县