发明名称 辐射检测器和辐射检测方法
摘要 本发明提供具有高检测灵敏度的辐射检测器和辐射检测方法。本发明的辐射检测器包括:Al2O3基板;叠层在Al2O3基板上的Fe2O3薄膜;叠层在Fe2O3薄膜上,CoO2面相对于Al2O3基板表面倾斜而排列的CaxCoO2(其中,0.15<x<0.55)薄膜;配置在CaxCoO2薄膜上的第一电极;和位于CaxCoO2薄膜上,在CoO2面倾斜排列的方向上,配置在与第一电极相对的位置上的第二电极。
申请公布号 CN102047085B 申请公布日期 2013.01.16
申请号 CN200980120321.2 申请日期 2009.11.17
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 高桥宏平;菅野勉;酒井章裕;足立秀明
分类号 G01J1/02(2006.01)I;G01J5/12(2006.01)I;H01L35/22(2006.01)I;H01L35/32(2006.01)I 主分类号 G01J1/02(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人 龙淳
主权项 一种辐射检测器,其特征在于,包括:具有作为r面、n面或S面的表面的Al2O3基板,其中,r面是从(0001)面倾斜57°的(1‑102)面,n面是从(0001)面倾斜61°的(11‑23)面,S面是从(0001)面倾斜72°的(10‑11)面;叠层在所述Al2O3基板的所述表面上的Fe2O3薄膜;叠层在所述Fe2O3薄膜上、CoO2面相对于所述Al2O3基板的所述表面倾斜地排列的CaxCoO2薄膜,其中,0.15<x<0.55;配置在所述CaxCoO2薄膜上的第一电极;和位于所述CaxCoO2薄膜上的第二电极,该第二电极在所述CoO2面倾斜排列的方向上,配置在与所述第一电极相对的位置上,所述CaxCoO2薄膜为倾斜叠层薄膜,具有CoO2层和Cax块层交替叠层的层状构造。
地址 日本大阪