发明名称 Abgestufte flache Grabenisolation für flächeneffiziente Körperkontakte in SOI-MOSFETS
摘要 Es wird eine SOI-Einheit auf einer massiven Siliciumschicht offenbart, die einen FET-Bereich, einen Körperkontaktbereich und einen STI-Bereich aufweist. Der FET-Bereich besteht aus einer SOI-Schicht ufasst eine erste STI-Schicht, die die SOI-Einheit von einer danebenliegenden SOI-Einheit trennt. Der Körperkontaktbereich umfasst eine Verlängerung der SOI-Schicht, eine zweite STI-Schicht auf der Verlängerung und einen Körperkontakt in Kontakt mit der Verlängerung. Die erste und die zweite STI-Schicht sind aneinanderliegend und weisen eine unterschiedliche Dicke auf, um einen abgestuften STI zu bilden.
申请公布号 DE112010003986(T5) 申请公布日期 2013.01.10
申请号 DE201011003986T 申请日期 2010.08.25
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 LI, YING;NARASIMHA, SHREESH;RAUSCH, WERNER A.
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/762 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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