发明名称 |
Abgestufte flache Grabenisolation für flächeneffiziente Körperkontakte in SOI-MOSFETS |
摘要 |
Es wird eine SOI-Einheit auf einer massiven Siliciumschicht offenbart, die einen FET-Bereich, einen Körperkontaktbereich und einen STI-Bereich aufweist. Der FET-Bereich besteht aus einer SOI-Schicht ufasst eine erste STI-Schicht, die die SOI-Einheit von einer danebenliegenden SOI-Einheit trennt. Der Körperkontaktbereich umfasst eine Verlängerung der SOI-Schicht, eine zweite STI-Schicht auf der Verlängerung und einen Körperkontakt in Kontakt mit der Verlängerung. Die erste und die zweite STI-Schicht sind aneinanderliegend und weisen eine unterschiedliche Dicke auf, um einen abgestuften STI zu bilden.
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申请公布号 |
DE112010003986(T5) |
申请公布日期 |
2013.01.10 |
申请号 |
DE201011003986T |
申请日期 |
2010.08.25 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
LI, YING;NARASIMHA, SHREESH;RAUSCH, WERNER A. |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/762 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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