发明名称 一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统
摘要 本发明涉及一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统,包括至少两根含尘气流通道,分别为颗粒物去尘通道(1)以及颗粒物含尘通道(2);所述颗粒物去尘通道(1)一端设有第一进气管口(3),另一端设有第一浓度检测部件(7);所述颗粒物含尘通道(2)一端设有第二进气管口(4),另一端设有第二浓度检测部件(8);所述颗粒物去尘通道(1)上还设有用于滤尘的颗粒物过滤装置。具有如下优点:通过差分的方法不需要通过除湿就能减小因湿度变化引起的颗粒物测量浓度误差;通过差分的方法能减小因工模干扰引起的颗粒物测量浓度误差。可提供一种与手工采样方法相同的颗粒物采集环境,能有效地减少与手工采样值的误差。
申请公布号 CN102866091A 申请公布日期 2013.01.09
申请号 CN201210363933.8 申请日期 2012.09.26
申请人 武汉市天虹仪表有限责任公司 发明人 李虹杰;李金平;张培生;陈建新;李恺骅
分类号 G01N15/06(2006.01)I 主分类号 G01N15/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于β射线法的颗粒物差分浓度测量系统,其特征在于,包括至少两根含尘气流通道,分别为颗粒物去尘通道(1)以及颗粒物含尘通道(2);所述颗粒物去尘通道(1)一端设有第一进气管口(3),另一端设有第一浓度检测部件(7);所述颗粒物含尘通道(2)一端设有第二进气管口(4),另一端设有第二浓度检测部件(8);所述颗粒物去尘通道(1)上还设有用于滤尘的颗粒物过滤装置,第一进气管口(3)以及第二进气管口(4)均接有PM2.5切割器或PM1.0切割器。
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