发明名称 用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路
摘要 一种用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路,设有五个PMOS管P1~P5及六个NMOS管N1~N6,PMOS管P1源端接电源,漏端与P4、P5的源端相连,PMOS管P2源端接电源,漏端与P4的栅端、NMOS管N1的漏端连接于位线BL,PMOS管P3源端接电源,漏端与P5的栅端、NMOS管N2的漏端连接于位线非NBL,NMOS管N3的栅端、N4的栅端与P1的栅端连接于敏感放大器使能信号pre,NMOS管N3的源端、N4的源端与地连接,NMOS管N1的源端及N2的源端与地连接,NMOS管N5的源端及N6的源端与地连接,PMOS管P2栅端、P4的漏端、与NMOS管N3的漏端、N1的栅端、N5的漏端、N6的栅端连接,PMOS管P3栅端、P5的漏端、与NMOS管N4的漏端、N2的栅端、N5的栅端、N6的漏端连接。
申请公布号 CN101714401B 申请公布日期 2013.01.02
申请号 CN200910213431.5 申请日期 2009.11.06
申请人 东南大学 发明人 柏娜;黄凯;陈鑫;杨军;时龙兴
分类号 G11C7/12(2006.01)I 主分类号 G11C7/12(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 奚幼坚
主权项 1.一种用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路,其特征在于:设有五个PMOS管P1~P5及六个NMOS管N1~N6,共11个晶体管,其中,PMOS管P1的源端接电源,PMOS管P1的漏端与PMOS管P4及PMOS管P5的源端共同连接;PMOS管P2的源端接电源,PMOS管P2的漏端与PMOS管P4的栅端以及NMOS管N1的漏端共同连接于一点且此点连接位线BL;PMOS管P3的源端接电源,PMOS管P3的漏端与PMOS管P5的栅端以及NMOS管N2的漏端共同连接于一点且此点连接位线非NBL;NMOS管N3的栅端与NMOS管N4的栅端以及PMOS管P1的栅端共同连接于一点且此点连接本放大电路的使能端<img file="FSB00000807878900011.GIF" wi="95" he="62" />NMOS管N3的源端及NMOS管N4的源端均与地连接,NMOS管N1的源端及NMOS管N2的源端均与地连接,NMOS管N5的源端及NMOS管N6的源端均与地连接,PMOS管P2的栅端、PMOS管P4的漏端、NMOS管N3的漏端、NMOS管N1的栅端、NMOS管N5的漏端以及NMOS管N6的栅端共同连接;PMOS管P3的栅端、PMOS管P5的漏端、NMOS管N4的漏端、NMOS管N2的栅端、NMOS管N5的栅端以及NMOS管N6的漏端共同连接。
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