发明名称 |
降低集成的金属检测/电子物品监测系统中的干扰影响的方法和系统 |
摘要 |
一种集成的电子物品监测(“EAS”)/金属检测系统。该系统包括可操作用于发射EAS询问信号的发射器,其中EAS询问信号建立起询问区并且被用来检测在询问区内的EAS标识器和金属物体。EAS询问信号在EAS检测周期内以第一频率发射,而在金属检测周期内以第二频率发射。该系统包括可操作用于检测接收自EAS标识器的信号的接收器,以及可操作用于检测接近集成的EAS/金属检测系统的金属物体的金属检测器模块,其中金属检测器模块包括被调谐用于基本上过滤掉第一发射频率的滤波器。 |
申请公布号 |
CN102859560A |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
申请号 |
CN201180019458.6 |
申请日期 |
2011.02.01 |
申请人 |
传感电子有限责任公司 |
发明人 |
M·A·索图;E·L·丁赫;A·S·博格曼 |
分类号 |
G08B13/24(2006.01)I;G01V3/10(2006.01)I |
主分类号 |
G08B13/24(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
秦晨 |
主权项 |
一种集成的电子物品监测(“EAS”)/金属检测系统,包括:可操作用于发射询问信号的发射器,所述询问信号建立询问区并且被用来检测在所述询问区内的EAS标识器和金属物体,所述询问信号在EAS检测周期内以第一频率来发射而在金属检测周期内以不同于所述第一频率的第二频率来发射;可操作用于检测接收自EAS标识器的信号的接收器;以及可操作用于检测接近所述集成的电子物品监测/金属检测系统的金属物体的金属检测器模块,所述金属检测器模块包括基本上以所述第一发射频率为中心的滤波器以在金属检测期间过滤掉所收到的基本上处于所述第一发射频率的信号。 |
地址 |
美国佛罗里达 |