发明名称 | 可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统 | ||
摘要 | 本发明公开了了一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统,涉及集成电路测试技术,包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源;待测电路板包括主控制器、待测可编程逻辑器件、和可选的非易失性存储器、或随机存储器;上位计算机中预装有控制软件。本发明的可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统,可以实现单粒子辐照实验流程的自动化操作,降低实验操作人员的工作量,并适应多种不同型号的待测可编程逻辑器件,具有通用性。 | ||
申请公布号 | CN102854456A | 申请公布日期 | 2013.01.02 |
申请号 | CN201110175869.6 | 申请日期 | 2011.06.28 |
申请人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明人 | 谢元禄;杨海钢 |
分类号 | G01R31/303(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/303(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 周国城 |
主权项 | 一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统,其特征在于:包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源;上位计算机与至少一台测量设备电连接,并双向通讯;粒子源与真空罐固接,面向真空罐内腔;至少一层隔离墙设于上位计算机与粒子源之间,将测量设备、真空罐、电源、粒子源置于隔离墙另一侧,使实验操作人员免于辐射;隔离墙中设有缺口,以布设连接线;测试时,至少一块待测电路板置于真空罐内腔,与测量设备电连接;待测电路板包括主控制器、可编程逻辑器件,主控制器与可编程逻辑器件之间双向通讯,主控制器与上位计算机双向通讯,或主控制器、可编程逻辑器件分别与上位计算机双向通讯;粒子源对准待测电路板上的可编程逻辑器件照射;上位计算机中预装有控制软件;电源为各部件供电。 | ||
地址 | 100190 北京市海淀区北四环西路19号 |