发明名称 |
用于制造III族氮化物半导体发光器件的方法 |
摘要 |
本发明提供了呈现出改善的光提取性能的III族氮化物半导体发光器件。在制造方法中,在30kPa压力和1.5×1020/cm3的Mg浓度下通过MOCVD法在发光层上形成p-AlGaN的p覆盖层。在具有III族元素极性的晶体中形成具有氮极性的多个区域,从而p覆盖层在其表面上具有六角形柱状凹凸形状。随后,通过MOCVD方法在p覆盖层上沿着该凹凸形状以膜的形式形成GaN的p接触层。 |
申请公布号 |
CN102842657A |
申请公布日期 |
2012.12.26 |
申请号 |
CN201210205978.2 |
申请日期 |
2012.06.18 |
申请人 |
丰田合成株式会社 |
发明人 |
中田尚幸;牛田泰久 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I;H01L33/20(2010.01)I;H01L33/02(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
蔡胜有;王春伟 |
主权项 |
一种用于制造具有p覆盖层和p接触层的III族氮化物半导体发光器件的方法,所述方法包括:通过Mg掺杂的晶体生长使晶体的至少一部分的极性反转从而形成所述p覆盖层使得在所述p覆盖层上具有凹凸形状;并且在所述p覆盖层上沿着所述凹凸形状形成所述p接触层。 |
地址 |
日本爱知县 |