发明名称 | 形成PN、PIN、N-型和P-型半导体薄膜的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种形成PN、PIN、N-型和P-型半导体薄膜的方法,包括以下步骤,提供一熔融的P-型、本质与N-型半导体材料。然后,对此熔融的P-型、本质与N-型半导体材料执行一下拉制程或一铸膜制程。之后,选择性地执行一双边滚动制程以形成一P-型、本质与N-型半导体带状。接着,接合此P-型、本质与N-型半导体带状以形成一PIN半导体带状。最后,对此PIN半导体带状执行一滚压制程或下压制程以形成一PIN半导体薄膜。 | ||
申请公布号 | CN102842487A | 申请公布日期 | 2012.12.26 |
申请号 | CN201210212694.6 | 申请日期 | 2012.06.21 |
申请人 | 张良冬 | 发明人 | 张良冬;张子恒 |
分类号 | H01L21/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 王晶 |
主权项 | 一种形成PN半导体薄膜的方法,其特征在于包括:提供一熔融P‑型半导体材料与一熔融N‑型半导体材料;形成熔融P‑型半导体材料与熔融N‑型半导体材料的一P‑型半导体带与一N‑型半导体带;接合P‑型半导体带与N‑型半导体带;以及对P‑型半导体带与N‑型半导体带执行一滚压制程或下压制程以形成PN半导体薄膜。 | ||
地址 | 中国台湾苗栗县竹南镇公馆里六邻70号 |