发明名称 形成PN、PIN、N-型和P-型半导体薄膜的方法
摘要 本发明公开了一种形成PN、PIN、N-型和P-型半导体薄膜的方法,包括以下步骤,提供一熔融的P-型、本质与N-型半导体材料。然后,对此熔融的P-型、本质与N-型半导体材料执行一下拉制程或一铸膜制程。之后,选择性地执行一双边滚动制程以形成一P-型、本质与N-型半导体带状。接着,接合此P-型、本质与N-型半导体带状以形成一PIN半导体带状。最后,对此PIN半导体带状执行一滚压制程或下压制程以形成一PIN半导体薄膜。
申请公布号 CN102842487A 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201210212694.6 申请日期 2012.06.21
申请人 张良冬 发明人 张良冬;张子恒
分类号 H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人 王晶
主权项 一种形成PN半导体薄膜的方法,其特征在于包括:提供一熔融P‑型半导体材料与一熔融N‑型半导体材料;形成熔融P‑型半导体材料与熔融N‑型半导体材料的一P‑型半导体带与一N‑型半导体带;接合P‑型半导体带与N‑型半导体带;以及对P‑型半导体带与N‑型半导体带执行一滚压制程或下压制程以形成PN半导体薄膜。
地址 中国台湾苗栗县竹南镇公馆里六邻70号