| 主权项 |
一种记忆体系统，其特征在于具备：第1记忆体，其系可电性进行资料写入/抹除；第2记忆体，其系对前述第1记忆体之抹除次数进行计数，并保持前述抹除次数及前述第1记忆体之最大抹除次数的非挥发性随机存取记忆体；及控制器，其系连接成经由连接介面自外部接收自诊断命令，基于前述自诊断命令自前述第2记忆体取出前述抹除次数及最大抹除次数，并经由前述连接介面向外部输出；前述第2记忆体系保持关于消耗度之临限值，前述控制器基于前述自诊断命令，自前述第2记忆体输出关于消耗度之临限值。如请求项1之记忆体系统，其中前述消耗度系藉由第2记忆体之前述抹除次数和前述最大抹除次数之除法运算所求得。如请求项1之记忆体系统，其中前述第2记忆体保持对应前述抹除次数之前述第1记忆体的资料保证期间资讯，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述资料保证期间资讯。如请求项1之记忆体系统，其中进而具备计时器，其系测定通电时间；前述第2记忆体保持前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述通电时间，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述通电时间。如请求项4之记忆体系统，其中前述第2记忆体进而保持前述第1记忆体之最大通电时间，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数、前述通电时间及前述最大通电时间。如请求项1之记忆体系统，其中前述第2记忆体保持前述第1记忆体所包含之复数记忆体区块中错误位元数最大之记忆体区块的前述错误位元数，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述错误位元数。如请求项1之记忆体系统，其中前述第2记忆体保持前述第1记忆体所包含之复数记忆体区块中之至少任一个记忆体区块的错误位元数，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述错误位元数。如请求项7之记忆体系统，其中前述第2记忆体保持前述错误位元数之临限值，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数、前述错误位元数及前述临限值。如请求项1之记忆体系统，其中进而具备时间计数器，其系测定向前述第1记忆体进行资料写入所需之时间；前述第2记忆体保持前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述资料写入所需之时间，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数及前述资料写入所需之时间。如请求项9之记忆体系统，其中前述第2记忆体保持前述资料写入所需之时间的临限值，前述控制器基于前述自诊断命令输出前述抹除次数、前述最大抹除次数、前述资料写入所需之时间及前述临限值。一种记忆体系统，其特征在于具备：第1记忆体，其系可电性进行资料写入/抹除；第2记忆体，其系监视向前述第1记忆体之写入容量及读取容量，并保持前述写入容量、前述读取容量、及基于前述第1记忆体之容量及写入限制次数的写入限制容量；及控制器，其系连接成经由连接介面自外部接收自诊断命令，基于前述自诊断命令自前述第2记忆体取出前述写入容量、前述读取容量及前述写入限制容量，并经由前述连接介面向外部输出。 |
