发明名称 |
背面接触形成 |
摘要 |
提供了一种半导体及其形成方法,该半导体包括衬底以及形成在衬底上的多个布线层和多个电介质层,布线层实现电路。电介质层将所述多个布线层中相邻的布线层隔开。第一钝化层形成在所述多个布线层上。第一接触焊盘形成在钝化层中,并且电耦合至电路。布线形成在钝化层上,并且连接至接触焊盘。贯穿硅通道(TSV)贯穿衬底、所述多个布线层、所述多个电介质层、以及钝化层而形成。TSV电连接至形成于钝化层上的布线。除了形成在钝化层上的金属布线所提供的连接以外,TSV与布线层电隔离。 |
申请公布号 |
CN102832192A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201210190856.0 |
申请日期 |
2012.06.11 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
弗洛里安·施密特;迈克尔·齐恩曼 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01)I;H01L23/538(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种半导体,包括:衬底;多个布线层和多个电介质层,所述多个布线层和所述多个电介质层形成在衬底上,电介质层将所述多个布线层中相邻的布线层隔开,布线层实现电路;第一钝化层,形成在所述多个布线层上;第一接触焊盘,形成在钝化层中,并且电耦合至电路;布线,形成在钝化层上,并且连接至接触焊盘;以及贯穿硅通道TSV,贯穿衬底、所述多个布线层、所述多个电介质层、以及钝化层而形成,TSV电连接至形成于钝化层上的布线,除了形成在钝化层上的金属布线所提供的连接以外,TSV与布线层电隔离。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |