发明名称 DATA TRANSFER METHOD WITH DATA ERROR CHECK, SEMICONDUCTOR MEMORY AND MEMORY SYSTEM WITH DATA ERROR CHECK
摘要 <p>메모리 시스템은 복수의 데이터 입/출력단을 통해 리드 동작시 전송할 데이터 그룹의 열 방향과 행 방향 각각에 대한 오류 검사 신호를 생성하여 데이터 그룹과 함께 출력하도록 구성되는 반도체 메모리, 및 반도체 메모리의 데이터 리드/라이트 동작을 제어하며, 라이트 동작시 전송할 데이터 그룹의 열 방향과 행 방향 각각에 대한 오류 검사를 수행하여 생성한 오류 검사 신호를 생성하여 데이터 그룹과 함께 상기 반도체 메모리에 제공하도록 구성된 메모리 컨트롤러를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101212759(B1) 申请公布日期 2012.12.14
申请号 KR20100106861 申请日期 2010.10.29
申请人 发明人
分类号 G11C29/10;G11C29/52 主分类号 G11C29/10
代理机构 代理人
主权项
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