摘要 |
Kontaktiervorrichtung (1) zum elektrischen Verbinden eines Prüflings (10) mit einer elektrischen Prüfeinrichtung, mit mehreren, mindestens einem Halteelement (3) zugeordneten, der Kontaktierung des Prüflings (10) dienenden, elektrischen Kontakten (7) und mit einer eine niedrige und eine höhere Auflösung aufweisenden optischen Einrichtung, wobei das Halteelement (3) der Kontaktiervorrichtung (1) mit mindestens einer von der optischen Einrichtung optisch erfassbaren Markierung (25) versehen ist, die eine definierte Lage zu mindestens einem der Kontakte (7) aufweist, wobei die Markierung (25) als Doppelmarkierung mit einer Grobstruktur und einer Feinstruktur ausgebildet ist.
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