芯片内部电源输出电压测量系统及方法

摘要

本发明提供了一种芯片内部电源输出电压测量系统及方法。根据本发明的芯片内部电源输出电压测量系统包括：测试机以及探针卡；其中所述测试机通过所述探针卡连接至待测芯片；其中，所述测试机包括驱动电压施加单元以及电源管理单元；而且其中，所述驱动电压施加单元用于向内部电源供电以确保电源供给的准确性；所述电源管理单元用于所述向所述待测芯片施加驱动电流，以量测所述待测芯片的内部电源输出电压；并且其中，所述测试机的第一通道和第二通道在输出端相互短接并连接至所述探针卡的一个输入端口；而且，所述探针卡的所述输入端口对应于所述待测芯片的一个引脚。

主权项

一种芯片内部电源输出电压测量系统，其特征在于包括：测试机以及探针卡；其中所述测试机通过所述探针卡连接至待测芯片；其中，所述测试机包括驱动电压施加单元以及电源管理单元；而且其中，所述驱动电压施加单元用于向内部电源供电以确保电源供给的准确性；所述电源管理单元用于所述向所述待测芯片施加驱动电流，以量测所述待测芯片的内部电源输出电压；并且其中，所述测试机的第一通道和第二通道在输出端相互短接并连接至所述探针卡的一个输入端口；而且，所述探针卡的所述输入端口对应于所述待测芯片的一个引脚。