发明名称 芯片测试板及芯片测试系统
摘要 本发明公开了一种芯片测试板及芯片测试系统,所述芯片测试板包括电路板,所述电路板上具有若干均匀排列的插孔阵列,在插孔阵列上设置有基座,所述基座包括至少由第一、二、三、四侧壁依次连接而成的框架、推进机构以及在对应所述插孔两侧分别设置的弹性元件,所述弹性元件用以挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接。在推进机构的推动下,弹性元件挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接,可以随意进行插拔和更换socket,当某颗芯片测试完毕或者被烧掉,只需取出该socket即可,并没有影响到同列或者同行的其他socket继续测试,克服了焊接带来的缺陷,而且也大大节约了成本。
申请公布号 CN101963647B 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN200910055379.5 申请日期 2009.07.24
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 丁育林;张启华;谢君强;孙阳阳
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种芯片测试板,包括电路板,所述电路板上具有若干均匀排列的插孔阵列,其特征在于:在插孔阵列上设置有基座,所述基座包括至少由第一、二、三、四侧壁依次连接而成的框架、推进机构以及在对应所述插孔两侧分别设置的弹性元件,所述弹性元件用以挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接,在所述第一侧壁靠近两端位置上分别设置有螺纹孔,所述推进机构包括把手和推杆,所述推杆一端与所述把手连接,另一端穿过对应所述螺纹孔与对应所述弹性元件的另一端连接。
地址 201203 上海市张江路18号