发明名称 |
芯片测试板及芯片测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种芯片测试板及芯片测试系统,所述芯片测试板包括电路板,所述电路板上具有若干均匀排列的插孔阵列,在插孔阵列上设置有基座,所述基座包括至少由第一、二、三、四侧壁依次连接而成的框架、推进机构以及在对应所述插孔两侧分别设置的弹性元件,所述弹性元件用以挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接。在推进机构的推动下,弹性元件挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接,可以随意进行插拔和更换socket,当某颗芯片测试完毕或者被烧掉,只需取出该socket即可,并没有影响到同列或者同行的其他socket继续测试,克服了焊接带来的缺陷,而且也大大节约了成本。 |
申请公布号 |
CN101963647B |
申请公布日期 |
2012.12.12 |
申请号 |
CN200910055379.5 |
申请日期 |
2009.07.24 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
丁育林;张启华;谢君强;孙阳阳 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种芯片测试板,包括电路板,所述电路板上具有若干均匀排列的插孔阵列,其特征在于:在插孔阵列上设置有基座,所述基座包括至少由第一、二、三、四侧壁依次连接而成的框架、推进机构以及在对应所述插孔两侧分别设置的弹性元件,所述弹性元件用以挤压插入所述插孔的针脚,使所述插孔与针脚电性连接,在所述第一侧壁靠近两端位置上分别设置有螺纹孔,所述推进机构包括把手和推杆,所述推杆一端与所述把手连接,另一端穿过对应所述螺纹孔与对应所述弹性元件的另一端连接。 |
地址 |
201203 上海市张江路18号 |