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发明名称 SEMICONDUCTOR APPARATUS AND TEST METHOD THEREOF
摘要 <p>반도체 장치는 제 1 및 제 2 데이터 채널을 공유하는 제 1 및 제 2 칩을 포함한다. 상기 제 1 칩은 제 1 테스트 모드에서 제 1 칩의 테스트 데이터를 압축하여 상기 제 1 데이터 채널로 출력하고, 상기 제 2 칩은 상기 제 1 테스트 모드에서 제 2 칩의 테스트 데이터를 압축하여 상기 제 2 데이터 채널로 출력한다.</p>
申请公布号 KR101208960(B1) 申请公布日期 2012.12.06
申请号 KR20100118787 申请日期 2010.11.26
申请人 发明人
分类号 G11C29/10;G11C29/40 主分类号 G11C29/10
代理机构 代理人
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