发明名称 一种薄膜残余应力分离和测量装置
摘要 本发明涉及一种薄膜残余应力分离和测量装置,包括密封箱、干涉仪、反射镜、加热板、水平微调底座及输气管,干涉仪、反射镜、加热板、水平微调底座及输气管均设置在密封箱内,干涉仪发出光束,经反射镜反射到达待测样品的表面,光束被反射后再次经过反射镜反射回到干涉仪中,与干涉仪中的标准面的反射光发生干涉。与现有技术相比,本发明可以测量计算薄膜样品的残余应力;各成分应力(由水诱发应力、热应力和内应力);薄膜的热膨胀系数和弹性模量;模拟薄膜样品在真空中应力的演化情况,是一种非接触、无破坏性的检测方法,测量精度高,操作方便。
申请公布号 CN102798491A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201110134521.2 申请日期 2011.05.23
申请人 同济大学 发明人 叶晓雯;丁涛;程鑫彬;马彬;何文彦;韩金;张艳云;王占山
分类号 G01L1/24(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I 主分类号 G01L1/24(2006.01)I
代理机构 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人 林君如
主权项 一种薄膜残余应力分离和测量装置,其特征在于,该装置包括密封箱(1)、干涉仪(2)、反射镜(3)、加热板(5)、水平微调底座(6)及输气管(7),所述的干涉仪(2)、反射镜(3)、加热板(5)、水平微调底座(6)及输气管(7)均设置在密封箱(1)内,加热板(5)上放置待测样品(4),干涉仪(2)发出光束,经反射镜(3)反射到达待测样品(4)的表面,光束被反射后再次经过反射镜(3)反射回到干涉仪(2)中,与干涉仪(2)中的标准面的反射光发生干涉。
地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号