发明名称 显示装置及其阵列基板的测试方法
摘要 本发明提供一种显示装置及其阵列基板的测试方法,所述显示装置包括:阵列基板;所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线;与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆;冗余端子,通过连线与至少一根短路杆连接;当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时,至少一个所述冗余端子,仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。所述的液晶显示装置,在安装驱动IC后,利用冗余端子作为驱动IC的输入端子或输出端子,则,冗余端子和短路杆两端的电性测试端子可以用来向驱动IC输入信号或测试驱动IC输出端的输出信号,因此,不必另外制作驱动IC的测试端子,能够简化制作过程,有利于提高产能、降低成本。
申请公布号 CN101833910B 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN200910047626.7 申请日期 2009.03.11
申请人 上海天马微电子有限公司 发明人 黄贤军
分类号 G09G3/00(2006.01)I;G09G3/36(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G09G3/00(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 李丽
主权项 一种显示装置,包括:阵列基板;所述基板上的相互交叠的扫描线和数据线;与所述扫描线和/或数据线连接的短路杆;冗余端子,通过连线与至少一根短路杆连接;其特征在于,当所述扫描线和/或数据线与短路杆的连接被断开时,至少一个所述冗余端子,仍然通过连线与所述至少一根短路杆连接。
地址 201201 上海市浦东新区汇庆路889号
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