发明名称 一种肖特基二极管的制备工艺
摘要 本发明涉及一种自对准硅化物技术的CMOS/BiCMOS工艺中兼容肖特基二极管的制备工艺,其包括如下步骤:a,提供已形成接触孔钨塞基底的工艺园片;b,在基底园片上通过光刻工艺形成肖特基孔区;c,采用腐蚀工艺去除肖特基孔区上的介质和场区二氧化硅,使肖特基孔区所对应衬底表面暴露;d,去除光刻胶,清洗,淀积金属钛、氮化钛,快速热退火,形成钛的肖特基接触硅化物;e,淀积金属导电层;f、金属光刻腐蚀,将肖特基正极和负极引出。本发明工艺操作简单,解决了自对准硅化物技术的CMOS/BiCMOS工艺中肖特基二极管的集成问题。
申请公布号 CN102800587A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201210330298.3 申请日期 2012.09.07
申请人 中国电子科技集团公司第五十八研究所 发明人 郑若成
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人 殷红梅
主权项 一种肖特基二极管的制备工艺,其特征是:包括如下制备步骤:a、工艺基底:所述工艺基底包括硅衬底(100)、场区二氧化硅(101)、硅化钛(102)、第一介质(103)、第二介质(104)及钨塞(105);(a‑1)所述场区二氧化硅(101)形成在硅衬底(100)上;(a‑2)所述硅化钛(102)通过钛和硅衬底反应形成,与硅衬底(100)之间为欧姆接触,分别形成在场区二氧化硅(101)两边,并与场区二氧化硅(101)接触;(a‑3)所述第一介质(103)淀积形成在场区二氧化硅(101)上方;(a‑4)所述第二介质(104)淀积形成在所述第一介质(103)上方; (a‑5)所述钨塞(105)与场区二氧化硅(101)两边的硅化钛(102)接触,所述钨塞(105)和硅衬底(100)为欧姆接触;b、涂布第一光刻胶:所述钨塞(105)及第二介质(104)的上方涂布光刻胶,通过曝光和显影,去除肖特基孔区上的光刻胶,保留两边钨塞(105)上方的第一光刻胶(106);c、热坚膜:固化光刻胶,腐蚀去除肖特基孔区上的第一介质(103)、第二介质(104)和场区二氧化硅(101),使肖特基孔区对应硅衬底(100)表面暴露;所述的热坚膜温度在120~150℃,热坚膜时间30min; d、去除钨塞(105)上方的第一光刻胶(106),采用二号液清洗;再在硅衬底(100)表面上方淀积一层金属钛(107),所述金属钛(107)上方淀积一层金属氮化钛(108),经退火处理,所述金属钛(107)和硅衬底(100)通过化学反应形成肖特基硅化物(109);所述退火温度为560~670℃;所述退火时间30秒;e、淀积金属导电层(110),所述金属导电层(110)淀积在氮化钛(108)上方;所述的金属导电层(110)将肖特基正极金属钛(107)、金属氮化钛(108)、将肖特基硅化物(109)引出,同时硅化钛(102)、钨塞(105)将肖特基二极管的负极引出;f、涂布第二光刻胶(111),在金属导电层(110)表层涂布第二光刻胶(111),并通过曝光和显影,去除钨塞(105)和肖特基孔外的光刻胶;g、腐蚀金属导电层(110)、金属氮化钛(108)及金属钛(107),无第二光刻胶(111)位置上的金属导电层(110)、金属氮化钛(108)和金属钛(107)被腐蚀去除,露出第二介质(104);h、去除钨塞(105)和肖特基区上的第二光刻胶(111),经清洗去除第二光刻胶(111),完成肖特基二极管的制备。
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