发明名称 |
Laserschweißgütebestimmungs-Verfahren und -Vorrichtung |
摘要 |
Die Schweißgüte eines Schweißabschnitts W, der durch Laserschweißen geschweißt wird, wird bestimmt durch Erfassen eines Bildes des Schweißabschnitts W und seines umgebenden Bereichs mittels einer Hochgeschwindigkeitskamera 11, Analysieren der Schweißspritzeranzahl P pro Längeneinheit und der Fläche eines Bereichs hoher Leuchtdichte in dem erfassten Bild als Parameter mittels eines Analysators 12 und Vergleichen der analysierten Parameter mit jeweiligen zuvor erstellten Vergleichstabellen, um die Schweißgüte des Schweißabschnitts Wa zu bestimmen. Informationen über die Schweißgüte des Schweißabschnitts Na werden auf einem Monitor 13 dargestellt. Nicht nur die Laserschweißgüte des Schweißabschnitts kann bestimmt werden, sondern es können auch prozessbegleitende Vorhersage der Scherfestigkeit sowie prozessbegleitende Vorhersage des Bruchmodus durchgeführt werden und so eine Qualitätskontrolle ermöglicht werden, die auf die Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisions-Laserschweißung abgestimmt ist.
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申请公布号 |
DE112010003406(T5) |
申请公布日期 |
2012.11.08 |
申请号 |
DE201011003406T |
申请日期 |
2010.08.26 |
申请人 |
IHI INSPECTION & INSTRUMENTATION CO., LTD. |
发明人 |
OOWAKI, KATSURA;MATSUZAKA, FUMIO;FUJITA, SHUICHI;EBINA, SHINICHI |
分类号 |
B23K26/00;B23K26/20 |
主分类号 |
B23K26/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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