发明名称 具有照明设备之缺陷检测装置
摘要 一种具有照明设备之缺陷检测装置,包含有第一与第二取像单元,可分别自不同的角度取得待测物影像,照明光源装置安装于取像单元之邻近处,而发射照明光束,第一光学镜片设置于照明光束的光路上,照明光束照射于第一光学镜片后将部分反射,使第一取像单元得以取得待测物的影像,照明光束也将部分穿透第一光学镜片,而照射于第二光学镜片,此时第二光学镜片将反射照明光束于待测物上,让第二取像单元取得待测物另一个角度的影像。
申请公布号 CN202522522U 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN201220004984.7 申请日期 2012.01.06
申请人 由田信息技术(上海)有限公司 发明人 张子斌;方志恒
分类号 G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 北京天平专利商标代理有限公司 11239 代理人 孙刚
主权项 一种具有照明设备之缺陷检测装置,可检测一待测物之缺陷,其特征在于包括:一第一取像单元,设置于所述待测物之一第一侧,用以撷取所述待测物之影像;一第二取像单元,位于所述待测物之所述第一侧,邻设于所述第一取像单元,用以撷取所述待测物之影像;一照明光源装置,位于所述待测物之所述第一侧,邻设于所述第二取像单元,可产生一照明光束;一第一光学镜片,位于所述待测物之所述第一侧,设置于所述照明光束之光路上;以及一第二光学镜片,位于所述待测物之所述第一侧;其中,所述照明光束发射至所述第一光学镜片后,将部分反射所述照明光束而产生一第一照明反射光束,而照射于所述待测物之所述第一侧的表面,所述第一取像单元利用所述第一照明反射光束,而取得所述待测物之影像;所述照明光束发射至所述第一光学镜片后,将部分穿透所述第一光学镜片,再照射于所述第二光学镜片,所述第二光学镜片可反射所述照明光束而产生一第二照明反射光束,照射于所述待测物之所述第一侧的表面,所述第二取像单元利用所述第二照明反射光束,取得所述待测物之影像。
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