发明名称 |
双壳层ZnO/CdTe/ZnS纳米电缆阵列电极及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了双壳层ZnO/CdTe/ZnS纳米电缆阵列电极的结构及其制备方法。用水热法实现单晶ZnO纳米线阵列垂直于ITO衬底生长,直径和高度分别在50~100nm、0.5~3μm内可调,然后在ZnO纳米线阵列上制备CdTe纳米电缆层和ZnS纳米晶钝化层,形成ZnO/CdTe/ZnS双壳层纳米电缆阵列结构电极。且CdTe壳层和ZnS的厚度分别在3~30nm以及5~15nm。通过退火工艺,有效的提高了ZnO/CdTe/ZnS纳米电缆阵列的结晶质量,实现了ZnO/CdTe纳米电缆阵列的饱和光电流密度从6.5mA/cm2提高到ZnO/CdTe/ZnS纳米电缆阵列的13.78mA/cm2。本发明设计的制备工艺简单环保,成本低,重复性好。 |
申请公布号 |
CN102768905A |
申请公布日期 |
2012.11.07 |
申请号 |
CN201210191330.4 |
申请日期 |
2012.06.11 |
申请人 |
湖北大学 |
发明人 |
王浩;刘荣;王喜娜;王甜;汪宝元;胡芸霞;许扬;丁浩;张军 |
分类号 |
H01G9/042(2006.01)I;H01G9/20(2006.01)I;C03C17/34(2006.01)I |
主分类号 |
H01G9/042(2006.01)I |
代理机构 |
武汉金堂专利事务所 42212 |
代理人 |
丁齐旭 |
主权项 |
一种双壳层ZnO/CdTe/ZnS纳米电缆阵列电极,是采用水热法实现单晶ZnO纳米线阵列垂直于ITO衬底生长,其特征在于ZnO纳米线阵列直径和高度分别控制在50~100nm、0.5~3μm范围内;然后利用电化学沉积工艺在ZnO纳米线阵列上制备CdTe纳米壳层,且通过调节沉积电量大小控制CdTe壳层的厚度在3~30nm;最后通过SILAR法制备ZnS外层,且通过改变循环次数控制ZnS的厚度在5~15nm。 |
地址 |
430062 湖北省武汉市武昌区学院路11号 |