| 发明名称 | 绝对式光栅尺 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种绝对式光栅尺，其包括一标准光栅、一光电探测器、及一光源，其中，该绝对式光栅尺进一步包括一扫描掩膜，该光源发出光线，经由该扫描掩膜射入该标准光栅，该光电探测器接收到绝对位置信号、参考位置信号及细分信号。该参考位置信号包括两路，其中一路为二半透光信号的组合，另一路为一完全不透光信号和一完全透光信号的组合。该绝对式光栅尺具有读数电路简单的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN102095379B | 申请公布日期 | 2012.11.07 |
| 申请号 | CN201010575398.3 | 申请日期 | 2010.12.07 |
| 申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 曾琪峰;乔栋;孙强 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I;G01D5/347(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人 | 张伟 |
| 主权项 | 一种绝对式光栅尺，其包括一标准光栅、一光电探测器、及一光源，其特征在于：该绝对式光栅尺进一步包括一扫描掩膜，该光源发出光线，经由该扫描掩膜射入该标准光栅，该光电探测器探测由该标准光栅滤光形成的光信号，分别为绝对位置信号、参考位置信号及细分信号，其中，该参考位置信号包括两路，其中一路为两个半透光信号的组合，另一路为一完全不透光信号和一完全透光信号的组合。 | ||
| 地址 | 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号 | ||