发明名称 Verfahren und Vorrichtung für ein nicht-kontaktierendes Messen einer Oberflächenform
摘要 Auch wenn ein Rückstrahl L' von einem zu messenden Werkstück 1 nicht der Mitte eines zweiteiligen Sensors S entspricht, wird ein Korrekturwert in Übereinstimmung mit einer Spannungsdifferenz zwischen den zwei Sensoren a und b des zweiteiligen Sensors S berechnet, wenn die Spannungsdifferenz innerhalb eines Nachbarschaftsbereichs liegt. Der Korrekturwert wird zu einer tatsächlichen Position einer Objektivlinse 4 in der vertikalen Richtung addiert, um eine Bewegungsgröße der Objektivlinse 4 nach oben zu einem fokussierten Zustand (einem Zustand, in dem der Rückstrahl L' der Mitte des zweiteiligen Sensors entspricht) zu berechnen.
申请公布号 DE112010000683(T5) 申请公布日期 2012.10.31
申请号 DE201011000683T 申请日期 2010.01.28
申请人 MITAKA KOHKI CO., LTD. 发明人 MIURA, KATSUHIRO;HIROSE, HAJIME;KOTAJIMA, HIDEO;TSUKAMOTO, TAKAO;ISHIMA, MINORU
分类号 G01B11/24;G01C3/06 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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