发明名称 用于测试影像感测晶片之探针卡
摘要 一种用于测试影像感测晶片之探针卡,包含有一电路板、一第一固定单元、复数探针、一第二固定单元、一镜头组、以及一灯光单元。该电路板具有一视窗。该第一固定单元结合于电路板下面,但未将该视窗遮蔽。前述复数探针是被第一固定单元固定于电路板下方位置。该第二固定单元结合于电路板上面。该镜头组采可调整方式被结合于第二固定单元处,并对应着前述视窗的所在位置。该灯光单元设置于第二固定单元顶面,灯光单元能产生适当的可见光。藉此,该光线能透过镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域,提供最能满足测试条件的光线予待测之影像感测晶片处,以提升测试的品质。
申请公布号 TWI375038 申请公布日期 2012.10.21
申请号 TW097118427 申请日期 2008.05.19
申请人 励威电子股份有限公司 发明人 黄郑隆;陈星龙;黄世彬;叶日嘉
分类号 G01R1/073 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项 一种用于测试影像感测晶片之探针卡,包括:一电路板,该电路板具有一第一表面、一第二表面及一视窗,该第一表面与第二表面呈相对面设置,该视窗则贯穿于电路板;一第一固定单元,结合于前述电路板之第二表面,但未将前述视窗完全遮蔽;复数探针,被前述第一固定单元固定于电路板下方位置,该探针一端是与电路板第二表面之电路相连接,另一端延伸至第一固定单元下方位置;一第二固定单元,设置于电路板之第一表面;一镜头组,被前述第二固定单元固定位电路板上方位置,该镜头组并对应着前述视窗的所在位置;一灯光单元,设置于第二固定单元顶面,该灯光单元能产生光线,该光线并能经镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域。如申请专利范围第1项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中该镜头组采可调整方式结合于第二固定单元处。如申请专利范围第1项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中第二固定单元的中心区域具有一调整区块,该调整区块的厚度较第二固定单元的最大厚度薄,该镜头组则采螺纹方式结合于调整区块处。如申请专利范围第1项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中,该灯光单元具有至少一灯源。如申请专利范围第1项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中该探针为弹簧式探针(spring probe),该弹簧式探针两端分别具有外径较小的一第一接触件及一第二接触件,该第一接触件与第二接触件其中至少一个具有可伸缩的弹性。如申请专利范围第5项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中该第一固定单元是由一第一固定件、一第二固定件、以及一第三固定件所采堆叠方式结合在一起,该第一固定件具有复数第一定位孔,该第一定位孔是小于前述弹簧式探针身部的外极且略大于第一接触件的外径,第二固定件则具有复数第二定位孔,该第二定位孔是对应于前述弹簧式探针身部的外径,该第三固定件则具有复数第三定位孔,该第三定位孔是小于探针身部的外径且略大于第二接触件的外径,该弹簧式探针身部、第一接触件、以及第二接触件则分于位于相对应之第二定位孔、第一定位孔及第三位孔内,使该弹簧探针则被定位于第一固定单元处。一种用于测试影像感测晶片之探针卡,包括:一电路板,该电路板具有一第一表面、一第二表面及一视窗,该第一表面与第二表面呈相对面设置,该视窗则贯穿于电路板;一第一固定单元,结合于前述电路板之第二表面,但未将前述视窗完全遮蔽;复数弹簧式探针,被前述第一固定单元固定于电路板下方位置,该弹簧式探针两端分别具有一外径较小的第一接触件及第二接触件,第一接触件是与该电路板第二表面的电路作电性连接,第二接触件则是延伸出该固定单元的下方位置,该弹簧式探针是采垂直于视窗的方向设置;一第二固定单元,设置于电路板之第一表面;一镜头组,被前述第二固定单元固定位电路板上方位置,该镜头组并对应着前述视窗的所在位置;一灯光单元,设置于第二固定单元顶面,该灯光单元能产生光线,该光线并能经镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域。一种用于测试影像感测晶片之探针卡,其包括:一电路板,该电路板具有一第一表面、一第二表面及一视窗,该第一表面与第二表面呈相对面设置,该视窗则贯穿于电路板;一第一固定单元,结合于前述电路板之第二表面,但未将前述视窗完全遮蔽;复数垂直式可挠曲探针,被前述第一固定单元固定于电路板下方位置,该垂直式可挠曲探针一端是与该电路板第二表面的电路作电性连接,另一端延伸出该第一固定单元的下方位置;一第二固定单元,设置于电路板之第一表面;一镜头组,被前述第二固定单元固定位电路板上方位置,该镜头组并对应着前述视窗的所在位置;一灯光单元,设置于第二固定单元顶面,该灯光单元能产生光线,该光线并能经镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域。如申请专利范围第8项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中该第一固定单元是由一第一固定件、一第二固定件、以及一第三固定件所构成,该第一固定件具有复数个第一定位孔,而第三固定件则具有数个第三定位孔,该第一定位孔与第三定位孔的孔径及孔型分别与垂直式可挠曲探针接近两端的区段外形相对应,该垂直式可挠曲探针接近两端的区段外壁并分别设置于该第一定位孔与第三定位孔内。一用于测试影像感测晶片之探针卡,包括:一电路板,该电路板具有一第一表面、一第二表面及一视窗,该第一表面与第二表面呈相对面设置,该视窗则贯穿于电路板;一第一固定单元,结合于前述电路板之第二表面,但未将前述视窗完全遮蔽;复数悬臂式探针,被固定于前述第一固定单元底部,该悬臂式探针一端是与该电路板第二表面的电路作电性连接,另一端延伸出该第一固定单元的下方位置;一第二固定单元,设置于电路板之第一表面;一镜头组,被前述第二固定单元固定位电路板上方位置,该镜头组并对应着前述视窗的所在位置;一灯光单元,设置于第二固定单元顶面,该灯光单元能产生光线,该光线并能经镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域。如申请专利范围第10项所述之用于测试影像感测晶片之探针卡,其中该第一固定单元为一环状且底部具有斜面,前述悬臂式探针则被固定于第一固定单元底部。
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