摘要 |
Verfahren zur Überprüfung von Solarzellenoberflächen zur Erkennung von Ablagerungen eines Kontakt-Materials auf einem Solarzellensubstrat, umfassend die folgenden Schritte: – Anlegen (101) einer Rückwärtsspannung an die Solarzelle (1); – Auswählen (103) eines Bereichs auf einer Oberfläche (3) der Solarzelle (1), auf dem die Bildung von Kontakten (5) mittels eines Kontakt-Materials nicht vorgesehen ist; – spektral und/oder temporal aufgelöstes Erfassen (105) elektromagnetischer Strahlung, welche aufgrund der angelegten Rückwärtsspannung von dem ausgewählten Bereich der Solarzellenoberfläche (3) emittiert wird; und – Auffinden (107) von Ablagerungen (7) des Kontakt-Materials mittels Analysieren der erfassten elektromagnetischen Strahlung, wobei die elektromagnetische Strahlung ein Leuchten von Stellen auf der Solarzellenoberfläche umfasst, an denen Ablagerungen des Kontakt-Materials vorhanden sind.
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