| 发明名称 | 溴系难燃剂判定方法、溴系难燃剂判定装置、再利用方法及再利用装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种溴系难燃剂判定方法，其对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。 | ||
| 申请公布号 | CN102741679A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
| 申请号 | CN201180008288.1 | 申请日期 | 2011.09.16 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 间濑健一郎;太田祯章;宫坂将稔 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/35(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 刘文海 |
| 主权项 | 一种溴系难燃剂判定方法，对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||