发明名称 磁盘阵列容错处理方法和装置及容错系统
摘要 本发明实施例公开了一种磁盘阵列容错处理方法和装置及容错系统。一种磁盘阵列容错处理方法包括:读取磁盘阵列存储的第一水平校验分组的p个数据块,第一水平校验分组包括第一水平校验块和p个数据块,p为正整数;通过将读取的第一水平校验分组的p个数据块进行异或运算获得该第一水平校验块;读取磁盘阵列存储的第一斜向校验分组的p个数据块,第一斜向校验分组包括第一水平校验块、第一斜向校验块和p个数据块;通过将第一水平校验块和读取的第一斜向校验分组的p个数据块进行异或运算获得该第一斜向校验块;将获得的第一水平校验块和第一斜向校验块写入对应存储单元。本发明实施例技术方案能够相对降低磁盘容错的计算复杂度,提高可实施性。
申请公布号 CN101719086B 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN200910222688.7 申请日期 2009.11.30
申请人 成都市华为赛门铁克科技有限公司;电子科技大学 发明人 王玉林;姚建业
分类号 G06F11/10(2006.01)I 主分类号 G06F11/10(2006.01)I
代理机构 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人 彭愿洁;李文红
主权项 1.一种磁盘阵列容错处理方法,其特征在于,包括:读取磁盘阵列存储的第一水平校验分组的p个数据块,其中,第一水平校验分组包括:第一水平校验块和p个数据块,p为正整数;其中,通过将读取的第一水平校验分组的p个数据块进行异或运算获得所述第一水平校验块;读取磁盘阵列存储的第一斜向校验分组的p个数据块,其中,第一斜向校验分组包括第一水平校验块、第一斜向校验块和p个数据块;其中,通过将第一水平校验块和读取的第一斜向校验分组的p个数据块进行异或运算获得所述第一斜向校验块;将获得的所述第一水平校验块和第一斜向校验块写入磁盘阵列的对应存储单元;其中,所述读取磁盘阵列存储的第一水平校验分组的p个数据块,包括:获取第一水平校验分组的p个数据块对应在容错编码矩阵M中的行号和列号,其中,第一水平校验分组的p个数据块C<sub>i,k</sub>的行号为i,数据块C<sub>i,k</sub>的列号k的取值分别为0到p-1的p个整数;根据容错编码矩阵M各行列的矩阵元素与磁盘阵列的存储单元的对应关系,从磁盘阵列的对应存储单元读取第一水平校验分组的p个数据块;所述读取磁盘阵列存储的第一斜向校验分组的p个数据块,包括:获取第一斜向校验分组的p个数据块对应在容错编码矩阵M中的行号和列号,其中,第一斜向校验分组的p个数据块<img file="FDA00001723851700011.GIF" wi="325" he="121" />的列号k的取值分别为0到p-1的p个整数,数据块<img file="FDA00001723851700012.GIF" wi="325" he="121" />的行号为(i+nk)<sub>p</sub>,旋转系数n为正整数或负整数;根据容错编码矩阵M各行列的矩阵元素与磁盘阵列的存储单元的对应关系,从磁盘阵列的对应存储单元读取第一斜向校验分组的p个数据块。
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