发明名称 |
LCD模组的电压和透过率的关系曲线的交流测试方法和系统 |
摘要 |
本发明提供了一种Module V-T的交流测试方法和系统,包括:A.确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B.在第N个测试周期内,将第N个实际电压值发送给电压源,控制电压源输出对应的方波交流电压对LCD模组(Module)的Data信号进行加压;C.在第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据第N个实际电压值和读取的亮度值绘制第N个测试周期对应的V-T曲线;D.使N=N+1,返回步骤B;N为正整数。通过本发明,能够实现Module V-T的交流测试。 |
申请公布号 |
CN102708814A |
申请公布日期 |
2012.10.03 |
申请号 |
CN201110216961.2 |
申请日期 |
2011.07.29 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
发明人 |
张智;陈维涛;张新宇 |
分类号 |
G09G3/36(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/36(2006.01)I |
代理机构 |
北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 |
代理人 |
迟姗;张颖玲 |
主权项 |
一种Module V‑T的交流测试方法,其特征在于,该方法包括:A、确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B、在第N个测试周期内,将第N个所述实际电压值发送给所述电压源,控制所述电压源输出对应的方波交流电压对液晶显示器(LCD)模组(Module)的Data信号进行加压;C、在所述第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据所述第N个实际电压值和读取的亮度值绘制所述第N个测试周期对应的V‑T曲线;D、使N=N+1,返回步骤B;其中,所述N为正整数。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |