发明名称 LCD模组的电压和透过率的关系曲线的交流测试方法和系统
摘要 本发明提供了一种Module V-T的交流测试方法和系统,包括:A.确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B.在第N个测试周期内,将第N个实际电压值发送给电压源,控制电压源输出对应的方波交流电压对LCD模组(Module)的Data信号进行加压;C.在第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据第N个实际电压值和读取的亮度值绘制第N个测试周期对应的V-T曲线;D.使N=N+1,返回步骤B;N为正整数。通过本发明,能够实现Module V-T的交流测试。
申请公布号 CN102708814A 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN201110216961.2 申请日期 2011.07.29
申请人 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 发明人 张智;陈维涛;张新宇
分类号 G09G3/36(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G09G3/36(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 迟姗;张颖玲
主权项 一种Module V‑T的交流测试方法,其特征在于,该方法包括:A、确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B、在第N个测试周期内,将第N个所述实际电压值发送给所述电压源,控制所述电压源输出对应的方波交流电压对液晶显示器(LCD)模组(Module)的Data信号进行加压;C、在所述第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据所述第N个实际电压值和读取的亮度值绘制所述第N个测试周期对应的V‑T曲线;D、使N=N+1,返回步骤B;其中,所述N为正整数。
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