发明名称 |
LED温控特性测试装置 |
摘要 |
一种LED温控特性测试装置,底板上设有外壳,外壳的腔体内设有支架,支架下设有风扇,支架上设有半导体制冷片,半导体制冷片上面设有铜模,铜模周侧设有保温层,铜模壁体内设有铜模体温度探头,铜模腔体内设有LED支架,LED支架上设有LED和铜模腔温度探头。实验操作时,经电气连接部上的若干电气连接头连接到各种实验仪表上,开启LED和半导体制冷片制热模式给铜模加热,通过实验仪表记录铜模温度和铜模腔体温度,同时观测LED随温度升高以及在一定温度下的发光性能;然后切换半导体制冷片为制冷模式给铜模制冷,通过实验仪表记录铜模温度和铜模腔体温度,同时观测LED随温度降低以及在一定温度下的发光性能。 |
申请公布号 |
CN202453463U |
申请公布日期 |
2012.09.26 |
申请号 |
CN201220040710.3 |
申请日期 |
2012.02.08 |
申请人 |
杭州大华仪器制造有限公司;徐州工程学院 |
发明人 |
滕道祥;王震;覃爱民;陈锣萍 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G09B23/18(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
浙江永鼎律师事务所 33233 |
代理人 |
陆永强 |
主权项 |
一种LED温控特性测试装置,包括底板(1)和设置在底板(1)上的外壳(2),其特征在于所述外壳(2)的腔体内设有支架(3),支架(3)下设有风扇(8),支架(3)上设有半导体制冷片(6),半导体制冷片(6)上面设有铜模(4),铜模(4)壁体内设有铜模体温度探头(11),铜模(4)腔体内设有LED(5)和铜模腔温度探头(9)。 |
地址 |
311401 浙江省杭州市富阳市东山路23号 |