| 发明名称 | 一种提高快速I<sub>d</sub>-V<sub>g</sub>测试精度的测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明属于晶体管可靠性测试技术领域，具体为一种提高快速Id-Vg测试精度的测试系统，其特征在于：在原Id-Vg测试系统中，将原有的高频探针上添加一个50Ω的片状电阻，组成一个高频信号加载探针；在原有的电源探针上添加一个10μF的片状电容器，组成一个新的电源探针。本发明系统可用于高性能低功耗MOSFETs晶体管中精确快速的Id-Vg测试，本发明操作简单、几乎零成本，但是效果显著，测试精确，适用于高电流性能MOSFETs晶体管上高介电常数栅介质可靠性方面的研究。 | ||
| 申请公布号 | CN102692593A | 申请公布日期 | 2012.09.26 |
| 申请号 | CN201210184203.1 | 申请日期 | 2012.06.06 |
| 申请人 | 复旦大学 | 发明人 | 王晨;卢红亮;孙清清;周鹏;王鹏飞;张卫 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人 | 陆飞;盛志范 |
| 主权项 | 一种提高快速Id‑Vg测试精度的测试系统，其特征在于：在原Id‑Vg测试系统中，将原有的高频探针上添加一个50 Ω的片状电阻，组成一个高频信号加载探针；在原有的电源探针上添加一个10 μF的片状电容器，组成一个新的电源探针。 | ||
| 地址 | 200433 上海市杨浦区邯郸路220号 | ||