发明名称 | 由工件切分晶圆的方法 | ||
摘要 | 一种由工件切分晶圆的方法,包括:在锯切操作过程中,相对于工件移动锯切线的以平行方式设置的线段,从而生成晶圆,其中,线段被张紧在两个导线辊之间,每个导线辊具有特有厚度的带沟槽的涂层;以及,借助于在涂层的端部专用地固定到涂层上的环,通过测量传感器和环之间的距离,测量其中一个导线辊的涂层的长度变化,所述变化由温度变化导致;以及根据所测量的距离冷却导线辊。 | ||
申请公布号 | CN102689369A | 申请公布日期 | 2012.09.26 |
申请号 | CN201210074761.2 | 申请日期 | 2012.03.20 |
申请人 | 硅电子股份公司 | 发明人 | A·休伯;W·格马什;R·克鲁泽德;P·威斯纳 |
分类号 | B28D5/04(2006.01)I | 主分类号 | B28D5/04(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 蔡胜利 |
主权项 | 一种由工件切分晶圆的方法,包括:在锯切操作过程中,相对于工件移动锯切线的以平行方式设置的线段,从而生成晶圆,其中,线段被张紧在两个导线辊之间,每个导线辊具有特有厚度的带沟槽的涂层;以及,借助于在涂层的端部专用地固定到涂层上的环,通过测量传感器和环之间的距离,测量其中一个导线辊的涂层的长度变化,所述变化由温度变化导致;以及根据所测量的距离冷却导线辊。 | ||
地址 | 德国慕尼黑 |