发明名称 用于处理微电子工件的系统
摘要 本发明提供一种用于处理微电子工件的系统,包括:容纳工件的处理室,所述处理室包括将工件与环境空气隔离的边界,边界的一部分包括流动气体的帘幕;可移动盖,其覆盖在工件上并限定处理室的至少一部分边界,所述盖包括第一状态和第二状态,在第一状态中,所述盖在工件的处理期间处于第一位置,在第二状态中,所述盖处于允许向所述室逸出气体的第二位置,并且,所述盖包括至少一个入口,至少一种处理流体通过该至少一个入口被引入处理室;至少一个边界构件,其具有一边缘,当盖处于第一状态时,该边缘接近盖但与盖隔开,在工件处理期间,所述盖与至少一个边界构件之间存在间隙;流动气体的帘幕,在盖处于第一状态时,帮助将处理室与环境空气隔离。
申请公布号 CN102683249A 申请公布日期 2012.09.19
申请号 CN201210165024.3 申请日期 2009.05.05
申请人 FSI国际公司 发明人 杰弗里·M·劳尔哈斯;吉米·D·柯林斯;特蕾西·A·加斯特;艾伦·D·罗斯
分类号 H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 一种用于处理微电子工件的系统,包括:处理室,容纳所述工件,所述处理室包括将所述工件与环境空气隔离的边界,其中,所述边界的一部分包括流动气体的帘幕;可移动盖,其覆盖在工件上并限定所述处理室的至少一部分边界,所述盖包括第一状态和第二状态,在所述第一状态中,所述盖在容纳于所述处理室中的工件的处理期间处于第一位置,在所述第二状态中,所述盖处于允许向所述室逸出气体的第二位置,并且,所述盖可选地包括至少一个入口,至少一种处理流体通过所述至少一个入口被引入所述处理室;至少一个边界构件,其具有一边缘,当所述盖处于所述第一状态时,所述边缘接近所述盖但是与所述盖隔开,使得在工件处理期间,在所述盖与所述至少一个边界构件之间存在间隙;流动气体的帘幕,其形成针对所述间隙的边界,以在所述盖处于所述第一状态的同时,在至少一部分处理期间帮助将所述处理室与环境空气隔离。
地址 美国明尼苏达州