发明名称 摇动质量块压电双轴微陀螺
摘要 本发明涉及一种微机电技术领域的摇动质量块压电双轴微陀螺,它包括一个摇动质量块谐振子,支撑摇动质量块的基板,四个与基板边方向平行且具有间隙的驱动电极,四个与基板边方向平行检测电极。本发明利用摇动质量块谐振子的特殊振动模态,采用逆压电效应驱动,通过检测压电电极上的电压变化来检测两个基板面内方向的角速度,最后通过外围调解处理电路,得到基板面内两个方向的输入角速度。本发明采用MEMS微细加工工艺,结构简单,能实现双轴检测,加工工艺易于实现,可靠性高。
申请公布号 CN102679967A 申请公布日期 2012.09.19
申请号 CN201210139878.4 申请日期 2012.05.07
申请人 上海交通大学 发明人 张卫平;许仲兴;关冉;张弓;成宇翔;陈文元;吴校生;刘武;崔峰
分类号 G01C19/56(2012.01)I 主分类号 G01C19/56(2012.01)I
代理机构 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人 郭国中
主权项 一种压电驱动压电检测双轴微陀螺仪,其特征在于包括:一个具有摇动质量块的谐振子,通过基板支撑;四个与基板边平行的驱动电极;以及四个与基板边平行的检测电极;所述摇动质量块的材料为金属,基板的材料为PZT压电材料。
地址 200240 上海市闵行区东川路800号