| 发明名称 | 一种可控硅故障检测电路 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种可控硅故障检测电路，包括整流桥、光电耦合器和限流电阻，所述的整流桥的第一输入端子通过一个限流电阻连接可控硅的一端，第二输入端子连接可控硅的另一端，所述的光电耦合器的第一输入端子连接整流桥的第一输出端子，所述的光电耦合器的第二输入端子连接整流桥的第二输出端子。与现有技术相比，本实用新型通过检测光电耦合器输出端是否有电平跳变，及时判断出可控硅是否故障并给出故障信号。 | ||
| 申请公布号 | CN202433488U | 申请公布日期 | 2012.09.12 |
| 申请号 | CN201120523691.5 | 申请日期 | 2011.12.14 |
| 申请人 | 上海亿盟电气自动化技术有限公司 | 发明人 | 钱丙军 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人 | 宣慧兰 |
| 主权项 | 一种可控硅故障检测电路，其特征在于，包括整流桥(BD1)、光电耦合器(U1)和限流电阻(R3)，所述的整流桥(BD1)的第一输入端子(1)通过一个限流电阻(R3)连接可控硅的一端，第二输入端子(2)连接可控硅的另一端，所述的光电耦合器(U1)的第一输入端子(A)连接整流桥(BD1)的第一输出端子(2)，所述的光电耦合器(U1)的第二输入端子(C)连接整流桥(BD1)的第二输出端子(4)。 | ||
| 地址 | 200042 上海市长宁区长宁路270号C座4层 | ||