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Systeme und Verfahren zur Verteilungsanalyse einer integrierten Stapel-Die-Schaltung (IC) werden beschrieben. Die integrierte Stapel-Die-Schaltung weist einen primären Die auf, und Taktlastinformationen für den primären Die des ICs werden bestimmt. Zusätzlich kann ein Taktlastmodell erzeugt werden unter Verwendung der Taktlastinformationen für den primären Die. Taktlastinformationen für einen zweiten Die, der mit dem primären Die gekoppelt ist, können auch bestimmt werden. Die Taktlastinformationen für den zweiten Die können in das Taktlastmodell eingefügt werden, um ein verbessertes Taktlastmodell für den Stapel-Die-IC zu erzeugen, der dann analysiert werden kann, als wenn er ein Einzel-Die-IC wäre.
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