玻璃上芯片型液晶显示器及其检查方法

摘要

一种玻璃上芯片型液晶显示器，具有在连接驱动IC之前检测块模糊效应的测试线和测试焊盘，可以精确地判断块模糊效应，实现阵列基板的更加详细的检查并且可以防止由于误判断造成的制造成本增加。还公开一种玻璃上芯片型液晶显示器的检查方法，提供了检测数据连接线的断开的附加的测试线和焊盘。

主权项

一种玻璃上芯片型液晶显示器，包括：具有显示区和包围所述显示区的非显示区的第一基板，其中所述非显示区包括第一、第二、第三和第四非显示区；在所述第一基板上的所述显示区中并且彼此交叉以界定像素区的栅线和数据线；在所述栅线和数据线的每个交叉部分处并且连接到所述栅线和数据线的开关薄膜晶体管；在每个所述像素区中并且连接到所述开关薄膜晶体管的像素电极；在所述第二非显示区中并且连接到所述数据线的第一测试薄膜晶体管，所述第一测试薄膜晶体管以固定的间距彼此隔开；通过所述第一测试薄膜晶体管连接到所述数据线的一端的第一、第二和第三数据测试线，其中所述第一数据测试线连接到第3n‑2数据线，所述第二数据测试线连接到第3n‑1数据线，所述第三数据测试线连接到第3n数据线，n是自然数；分别连接到所述第一、第二和第三数据测试线的第一、第二和第三数据测试焊盘；在所述第一非显示区中并且连接到所述数据线的另一端的数据连接线；在所述第一非显示区中并且连接到所述数据连接线的第二测试薄膜晶体管；连接到所述第二测试薄膜晶体管的源电极的第四数据测试线；连接到所述第四数据测试线的第四数据测试焊盘；连接到所述栅线的栅连接线；连接到所述栅连接线的第三测试薄膜晶体管；通过所述第三测试薄膜晶体管连接到所述栅线的栅测试线；连接到所述栅测试线的栅测试焊盘；在所述非显示区中的公共测试线和公共焊盘；与所述第一基板隔开的第二基板；顺序地形成在所述第二基板的内侧表面上的滤色器层和公共电极，其中 所述公共电极连接到所述公共测试线；以及在所述第一和第二基板之间的液晶层，其中驱动IC被连接在所述第一非显示区中。