一种可测试精密IC的测试座

摘要

本实用新型涉及电子产品测试用具技术领域，特别是一种可测试精密IC的测试座，该IC测试座包括上盖及下盖，所述上盖及下盖通过铰接轴铰接，所述下盖上设有测试座，所述测试座内填充导电胶条，导电胶条内穿插金丝。本实用新型通过采用具有高传感性及高精度的金丝制成IC测试座探针，相比于普通的探针类测试制具，能适应更多精密IC的测试与挑选，满足IC向着更小型化、更精密的方向发展的测试需求。

主权项

一种可测试精密IC的测试座，包括上盖(1‑1)及下盖(1‑4)，所述上盖(1‑1)及下盖(1‑4)通过铰接轴(1‑2)铰接，其特征在于，所述下盖(1‑4)上设有测试座(1‑3)，所述测试座(1‑3)内填充导电胶条(2‑1)，导电胶条(2‑1)内穿插金丝(2‑2)。