发明名称 | 污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的检查方法、光学叠层体以及显示器产品 | ||
摘要 | 本发明提供可适用于各种部件、再现性高、可检测微妙的污迹差异的防污性定量的污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的制造方法、以及具有防指纹附着性、抗污染性、从污染的恢复度的光学叠层体、和具有该光学叠层体的显示器产品。本发明的染性评价方法对试验体照射光,检测在该试验体上反射或透射的散射光,评价上述试验体的表面的污染程度。 | ||
申请公布号 | CN101512323B | 申请公布日期 | 2012.08.22 |
申请号 | CN200780033180.1 | 申请日期 | 2007.09.10 |
申请人 | 大日本印刷株式会社 | 发明人 | 伊藤洁 |
分类号 | G01N21/94(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/94(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 黄纶伟 |
主权项 | 一种光学部件的污染性评价方法,其特征在于,对光学部件照射光,检测在该光学部件上反射或透射的散射光,利用由国际照明委员会即CIE规定的L*a*b*色彩模型来评价上述光学部件的表面的污染程度。 | ||
地址 | 日本东京 |