发明名称 污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的检查方法、光学叠层体以及显示器产品
摘要 本发明提供可适用于各种部件、再现性高、可检测微妙的污迹差异的防污性定量的污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的制造方法、以及具有防指纹附着性、抗污染性、从污染的恢复度的光学叠层体、和具有该光学叠层体的显示器产品。本发明的染性评价方法对试验体照射光,检测在该试验体上反射或透射的散射光,评价上述试验体的表面的污染程度。
申请公布号 CN101512323B 申请公布日期 2012.08.22
申请号 CN200780033180.1 申请日期 2007.09.10
申请人 大日本印刷株式会社 发明人 伊藤洁
分类号 G01N21/94(2006.01)I 主分类号 G01N21/94(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 黄纶伟
主权项 一种光学部件的污染性评价方法,其特征在于,对光学部件照射光,检测在该光学部件上反射或透射的散射光,利用由国际照明委员会即CIE规定的L*a*b*色彩模型来评价上述光学部件的表面的污染程度。
地址 日本东京